電鏡掃描檢測SEM/EDS分析表面形貌分析
電鏡掃描檢測SEM/EDS分析表面形貌分析：
納米級微觀形貌觀察，常用的是SEM掃描電子顯微鏡，結合打能譜，就是X-射線能量色譜儀（EDS）相結合, 可以指定微區成分分析、測元素含量。
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
三本精密擁有獨立電鏡實驗室，面向全國，提供掃描電鏡SEM與EDS分析檢測服務，寄樣即測。
電鏡掃描SEM與EDS分析分析案例：
形貌觀察SEM
微觀尺寸測量
IMC觀察-SEM電鏡觀察
錫須觀察
表面成分分析
顆粒觀察
納米級微觀形貌觀察，常用的是SEM掃描電子顯微鏡，結合打能譜，就是X-射線能量色譜儀（EDS）相結合, 可以指定微區成分分析、測元素含量。
電鏡掃描SEM：利用陰極所發射的電子束經陽極加速，由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流，這束高能電子束轟擊到樣品表面會激發多種信息，經過分別收集，放大就能從顯示屏上得到各種相應的圖像。SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像，可以對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進行形貌觀察及成分分析。
EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
三本精密擁有獨立電鏡實驗室，面向全國，提供掃描電鏡SEM與EDS分析檢測服務，寄樣即測。
電鏡掃描SEM與EDS分析分析案例：
形貌觀察SEM
微觀尺寸測量
IMC觀察-SEM電鏡觀察
錫須觀察
表面成分分析
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