蔡司三坐標(biāo)的測量機使用方法
蔡司三坐標(biāo)測量機的簡稱，自1960年代中期第一臺坐標(biāo)測量機問世以來，隨著計算機技術(shù)的進步和電子控制系統(tǒng)，檢測技術(shù)的發(fā)展，為測量機向高精度，高速化的發(fā)展方向提供了強大的支持。技術(shù)支援。
蔡司三坐標(biāo)可以分為接觸式測量和非接觸式測量以及接觸式和非接觸式測量。接觸測量通常用于測量機加工產(chǎn)品和壓制產(chǎn)品，金屬膜等。本文以接觸測量機為例，說明幾種掃描物體表面以獲得數(shù)據(jù)點的方法。數(shù)據(jù)點的結(jié)果可用于處理數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描是指借助于測量儀的應(yīng)用軟件來獲取被測物體表面特定區(qū)域中的數(shù)據(jù)點。該區(qū)域可以是直線，表面，零件的一部分，零件的曲線或距邊緣一定距離的周邊。 SCAN的類型取決于測量模式，探頭的類型和CAD文件的存在。狀態(tài)按鈕（手動/ DCC）確定屏幕上可用的“掃描”選項。外圍掃描通常用于使用DCC進行測量并確保CAD文件可用。這些是“ OPEN LINEAR”，“ CLOSED LINEAR”，“ PATCH”，“ SECTION”和“ PERIMETER”掃描。如果使用DCC，并且僅線框CAD文件可用，則可以使用“開放線性”，“封閉線性”和“面片”掃描方法。如果使用手動測量模式，則只能使用基本的“手動TTP掃描”模式。如果探針在手動測量模式下是剛性的，則選項為“固定增量”，“可變增量”，“時間增量”和“身體軸掃描”。
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