蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 410 Versa
蔡司Xradia三維顯微鏡,Xradia 410 VersaX射線顯微鏡可提供無損3D成像，采用光學加幾何放大的成像架構，可實現大樣品高分辨率成像。可提供高襯度和可調節的增強相位襯度成像模式。為您的不同尺寸、不同類型的樣品提供強大的、經濟高效無損三維成像能力。
產品特點:
1. 三維無損成像
2. 900 nm真實空間分辨率
3. 大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸樣品多尺度成像
4. 吸收、相位襯度成像模式
5. 4D 原位成像能力
應用領域:
1. 材料科學，如三維無損分析
2. 生命科學，如微觀結構成像
3. 地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像
4. 電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析
5. 原位力學、變溫試驗
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